Hasla's Blog

AFM Probe Schematic

어제와 오늘 이틀에 걸쳐 AFM 트레이닝을 했다.

AFM의 이미지는 손맛? 이란것을 깨닫게 해주었다.


AFM으로 영상을 얻을때 레이져광을 사용한다고 말했었는데.. 그 레이져광을 미세한 Probe 끝에 맞추는것을 손으로 직접 해줘야 한다.
Probe는 Au 등의 금속으로 코팅되어 있어 레이져를 조사하면 반사되어 미러로 보내게 된다. 미러에서 반사된 레이져가 센서로 인식이 되는데 그 인식되는 수치는 앞면 lcd에 SUM값으로 나타난다. 이것이 가장 큰 값을 나타내도록 레이저의 x, y 축을 조정해준다. (Laser Align)
그 후 미러의 각도를 조절해주고 시료 위에 헤드를 올려주면 된다.

그 후 ccd 현미경을 통해 Probe를 시료 표면에 [적당히] 가깝게 내려준다.
사이의 거리가 너무 멀면 피에조가 너무 팽창을 하게되고 닿지 않을수도 있다.
반면 너무 가깝게되면 개당 5만원 가량 하는 Probe가 부러져 버릴수도 있다!!...

피치가 10마이크로미터, 1마이크로미터 인 두가지 standard sample을 사용하여 contact, tapping 두가지 mode를 연습했다.

위에 말한것들은 모두 air 상태에서 측정을 한것이고 오늘은 fluid 상에서 측정하는것을 배웠다. 하지만 뭔가 문제가 있는지 잘 되지 않았다.  더 연습이 필요할듯 싶다..

이번에 우리 연구실에 AFM(Atomic Force Microscope)을 설치했다.

AFM 은 STM(Scanning Tunneling Microscope)과 함께 SPM(Scanning Probe Microscope)의 한 종류이다.

STM은 Sample과 Probe와의 거리가 매우 가까워졌을때 둘 사이에 흐르는 tunnel 전류를 이용하여 표면의 궤적을 나타내게 된다. 따라서 Sample이 전도성을 띄지 않을 경우 STM으로 관찰하는데 어려움이 있다.

이에 개발된것이 AFM 이다. AFM의 경우 cantilever 끝에 달려있는 tip과 Sample 표면에 작용하는 원자 반발력(인력,척력)이 작용한다. 이로 인해 cantilever가 휘게 되고 그 휘는 정도를 레이저 광의 굴절을 통해 표면의 상태를 나타낸다.