AFM

이번에 우리 연구실에 AFM(Atomic Force Microscope)을 설치했다.

AFM 은 STM(Scanning Tunneling Microscope)과 함께 SPM(Scanning Probe Microscope)의 한 종류이다.

STM은 Sample과 Probe와의 거리가 매우 가까워졌을때 둘 사이에 흐르는 tunnel 전류를 이용하여 표면의 궤적을 나타내게 된다. 따라서 Sample이 전도성을 띄지 않을 경우 STM으로 관찰하는데 어려움이 있다.

이에 개발된것이 AFM 이다. AFM의 경우 cantilever 끝에 달려있는 tip과 Sample 표면에 작용하는 원자 반발력(인력,척력)이 작용한다. 이로 인해 cantilever가 휘게 되고 그 휘는 정도를 레이저 광의 굴절을 통해 표면의 상태를 나타낸다.